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大量批發(fā)HeLeeX E8 RoHS檢測(cè)儀器/無(wú)鹵檢測(cè)分析儀

  • 更新時(shí)間:  2017-11-21
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  • 簡(jiǎn)單描述
  • 大量批發(fā)HeLeeX E8 RoHS檢測(cè)儀器/無(wú)鹵檢測(cè)分析儀HeLeeX E8 RoHS檢測(cè)儀器/無(wú)鹵檢測(cè)分析儀是一款專門RoHS檢測(cè)儀器,其核心光路系統(tǒng)集合國(guó)內(nèi)外幾十年EDXRF*技術(shù),核心部件采用美國(guó)進(jìn)口,軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù),儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告;HeLeeXE8精密度高、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過(guò)國(guó)內(nèi)外同類儀器。
詳細(xì)介紹

大量批發(fā)HeLeeX E8 RoHS檢測(cè)儀器/無(wú)鹵檢測(cè)分析儀

HeLeeX E8 RoHS檢測(cè)儀器/無(wú)鹵檢測(cè)分析儀是一款專門RoHS檢測(cè)儀器,其核心光路系統(tǒng)集合國(guó)內(nèi)外幾十年EDXRF*技術(shù),核心部件采用美國(guó)進(jìn)口,軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù),儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告;HeLeeXE8精密度高、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過(guò)國(guó)內(nèi)外同類儀器。

HeLeeX E8 RoHS檢測(cè)儀器/無(wú)鹵檢測(cè)分析儀外形特點(diǎn):

● 儀器結(jié)構(gòu)采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì),儀器兩側(cè)按成人手臂長(zhǎng)度設(shè)計(jì),方便移動(dòng)、搬運(yùn)。

● 上蓋傾斜6度角,寓意對(duì)客戶的尊重。

● 表面采用高檔汽車噴漆工藝,采用寶藍(lán)、雅致白搭配,藍(lán)色代表科技,白色代表圣潔,寓意對(duì)科學(xué)的敬仰。

輻射防護(hù):

● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線。

● 輻射標(biāo)志警示。

● 迷宮式結(jié)構(gòu),防止射線泄漏。

● 安全連鎖設(shè)計(jì);測(cè)試過(guò)程中誤打開樣品蓋時(shí),電路0.1μS快速切斷X射線。

● 儀器經(jīng)第三方檢測(cè),X射線劑量率*符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》。

硬件技術(shù):

● 超短光路設(shè)計(jì):提高無(wú)鹵檢測(cè)分辨率,提高樣品分析效率,降低光管功率,延長(zhǎng)儀器使用壽命。

● 模塊化準(zhǔn)直器,根據(jù)分析元素,配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器,從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響,提高元素分辨率。

● 空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì),加速光管冷卻,有效降低儀器內(nèi)部溫度;設(shè)計(jì)。

● 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

● 技術(shù)快拆樣品盤,更換薄膜更方便。

軟件技術(shù):

●分析元素:Na~U之間元素。

● 分析時(shí)間:60~400秒。

● 配置RoHS檢測(cè)分析模型,無(wú)鹵分析模型。

● 軟件界面簡(jiǎn)潔,模塊化設(shè)計(jì),功能清晰,易操作。

● HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份,一鍵還原功能,保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全。

● HeLeeX ED Workstation V3.0根據(jù)不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測(cè)試精準(zhǔn)度。

● HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能,客戶建立自己的工作模型。

 

儀器規(guī)格:

● 外形尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (長(zhǎng)x寬x高)

● 樣品倉(cāng)尺寸 :360mm×330 mm ×50 mm (長(zhǎng)x寬x高)

● 儀器重量   :33.5kg

● 供電電源 :AC220V/ 50Hz

● zui大功率 :330W

● 工作溫度 :15-30℃

● 相對(duì)濕度 :≤85%,不結(jié)露

RoHS檢測(cè)儀器探測(cè)器

HeLeeX E8 RoHS檢測(cè)儀器/無(wú)鹵檢測(cè)分析儀

● 類型:X-123 Si-PIN探測(cè)器(采用*高性能電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶體面積:25mm2

● zui分辨率:145eV

RoHS檢測(cè)儀器X射線管

● 電    壓 :0~50kV

● zui大電流 :2.0mA

● zui大功率 :50W

● 靶    材 :Mo

● Be窗厚度 :0.2mm

● 使用壽命 :大于2萬(wàn)小時(shí)

高壓電源

● 輸出電壓:0~50kV

● 燈絲電流:0~2mA

● zui大功率:50W

● 紋波系數(shù):0.1%(p-p值)

● 8小時(shí)穩(wěn)定性:0.05%

攝像頭

● 微焦距

● 免驅(qū)動(dòng)

● 500萬(wàn)像素

準(zhǔn)直器、濾光片

● 快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)

● 多種材質(zhì)準(zhǔn)直器

● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可選

●多種濾光片、準(zhǔn)直器組合,軟件自動(dòng)切換

其他配件

●進(jìn)口高性能開關(guān)電源

●進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇


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